Все новости

Оценка качества системы МЭК для электронных компонентов – конференция в Росстандарте

15 мая 2014 в 11:24

В Росстандарте состоялась международная конференция «Оценка качества системы МЭК для электронных компонентов». Организаторы мероприятия: Росстандарт, Международная электротехническая комиссия (МЭК), ОАНО «Регистр системы сертификации персонала» и РНИИ «Электронстандарт».

На конференции обсуждались актуальные аспекты международного признания оценки соответствия отечественных изделий электронной компонентной базы (ЭКБ), а также вопросы стандартизации, членства России в Международной системе сертификации электронных компонентов МЭК (Система МЭК ЭК /IECQ IEC), обеспечения и контроля качества ЭКБ и возможности поставок за рубеж перспективных изделий ЭКБ, разрабатываемых и производимых на предприятиях России.

Изделия (ЭКБ) используются для производства радиоэлектронной аппаратуры, систем связи и телекоммуникаций.

Открывший конференцию Заместитель Руководителя Росстандарта Александр Зажигалкин отметил, что МЭК уделяет большое внимание вопросам оценки соответствия и присутствующие на конференции имеют уникальную возможность ознакомиться с международным опытом в этой области. А. Зажигалкин подчеркнул важность обеспечения и контроля качества продукции и роль стандартизации в этом процессе.

На конференции прозвучали доклад Аллана Стива, представитель системы МЭК ЭК/IECQ IEC и выступление Наталии Коломенской, заместителя генерального директора РНИИ "Электронстандарт".

В конференции приняли участие представители более 20 организаций производителей ЭКБ, студенты МАИ и др.

Источник:    http://www.gost.ru/wps/portal/


Комментарии

Пожалуйста, зарегистрируйтесь или войдите на сайт, чтобы оставить комментарий.